xs (X-Ray Diffraction Simuration)

(001)基板上の(hkl)面X線回折のシミュレーションを行うプログラムです。


使用法

xs [input filename] [output filename]


input file

サンプルファイル
XRDSIM2			; Don't change.
# comment		; You can write a comment here.
64.0			; Start angle 2theta (degree)
68.0			; End angle 2theta (degree)
4			; Step Angle 2theta (arcsec)
Ge			; 1st crystal
0 0 4			; Diffraction plane of 1st crystal
GaAs			; Substrate
0 0 1			; Orientation of substrate
0 0 4			; Diffraction plane
6			; Number of layers.
ZnSe 35			; Material and Thickness(ML) of 1st layer
ZnMgSSe0.1,0.15 400	; Material:
ZnSe 14			;   GaAs, AlGaAs0.3 (Al:0.3), ZnSSe0.1 (S:0.1),
ZnMgSSe0.1,0.15 50	;   ZnMgSSe0.2,0.3 (Mg:0.2, S:0.3),
ZnSe 14			;   ZnSSeTe0,1,0.05 (S:0.1, Te:0.05)
ZnMgSSe0.1,0.15 100


output file

シミュレーションの結果が書き出されます。
第1カラム: 2θ (degree)
第2カラム: X線回折強度
第3カラム: σ偏光回折強度
第4カラム: π偏光回折強度